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    村田磁珠在高頻范圍內的電阻特性是如何測量的?

    作者:小編點擊數:發布時間:2024-12-26

    村田磁珠在高頻范圍內的電阻(阻抗)特性測量是電子元件測試中一項重要的技術,主要依賴于矢量網絡分析儀(VNA)和阻抗分析儀這兩種精密儀器。

     

    村田磁珠.jpg

    在使用矢量網絡分析儀進行測量時,首先需要通過適配夾具將磁珠與儀器連接。VNA能夠測量S參數,特別是S11和S21,這些參數是描述網絡傳輸特性的重要指標。通過這些S參數,可以進一步計算出磁珠的阻抗,公式為 ( Z = R + jX ),其中R代表電阻,X代表電抗。

     

    在高頻范圍內,磁珠的阻抗特性表現出隨頻率的增加而增大的趨勢,主要體現在電阻特性上。這意味著在高頻信號下,磁珠對信號的阻抗會顯著增加,從而有效地抑制高頻噪聲。

     

    使用阻抗分析儀時,通常會采用專用夾具進行連接,這樣可以直接在儀器上顯示不同頻率下的阻抗值和相位角。阻抗分析儀的優勢在于其能夠提供更為直觀的測量結果,尤其是在高頻段,磁珠的電阻特性占主導地位,而電感效應則相對較弱。這種特性使得阻抗分析儀成為高頻特性測試的理想選擇。

     

    在進行頻率掃描時,測量的頻率范圍通常從幾十MHz延伸至GHz。在低頻段,磁珠的特性主要表現為電感特性,而在高頻段,電阻特性則逐漸顯現出來。測量結果表明,隨著頻率的增加,阻抗值也隨之上升。在高頻段,實部電阻成為主要成分,這一特性對于高頻噪聲的衰減具有重要意義。

     

    在進行上述測量時,有幾個關鍵的注意事項需要特別關注。首先,確保測試夾具的校準是至關重要的,只有經過準確校準的夾具才能提供可靠的測量結果。其次,盡量減少連接走線的長度,以降低寄生效應的影響,這樣可以提高測量的準確性和重復性。



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